Methoden- und Komponentenentwicklung (z.B. Rastersondenverfahren für technische Proben, Kombinations-Aufdampf- und Analysekammern, inverse Photoemission, elektrische Messmethoden im UHV, Methoden zur Untersuchung "nasser" Grenzflächen)
Grundlagenforschung zu Analytikverfahren (z.B. Photoemission an Proben mit kleiner Ladungsträgerbeweglichkeit, Vergleich HREELS -- UV/Vis, dynamische Kontaktwinkelmessungen)
Fehleranalyse und Optimierung von technischen Proben